

在工業(yè)氣體濕度檢測(cè)中,氣體壓力的波動(dòng)對(duì)測(cè)量精度的影響不容忽視。傳統(tǒng)露點(diǎn)儀常因采樣方式單一,難以適應(yīng)高壓、低壓或負(fù)壓等復(fù)雜工況,導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真或設(shè)備損壞。美國EdgeTech COM.AIR冷鏡露點(diǎn)儀,通過正壓采樣與擴(kuò)散采樣的雙模式設(shè)計(jì),準(zhǔn)確匹配不同氣體壓力場(chǎng)景,成為工業(yè)濕度檢測(cè)領(lǐng)域的信賴產(chǎn)品美國EdgeTech冷鏡露點(diǎn)儀COM.AIR滿足不同氣體壓力需求
在LPG儲(chǔ)罐、天然氣管道等高壓場(chǎng)景中,氣體壓力可達(dá)10MPa以上。若直接采用擴(kuò)散采樣,高速氣流可能沖擊傳感器鏡面,導(dǎo)致冷凝不均或測(cè)量滯后。COM.AIR的正壓采樣模式通過內(nèi)置真空泵或外接壓縮氣源,主動(dòng)抽取高壓氣體并經(jīng)減壓閥調(diào)節(jié)至穩(wěn)定壓力(如0.1-0.5MPa),再輸送至傳感器腔體。在西部某天然氣處理廠,COM.AIR的正壓采樣系統(tǒng)成功將高壓氣體露點(diǎn)測(cè)量誤差從±1.5℃降至±0.3℃,同時(shí)避免了鏡面因氣流沖擊產(chǎn)生的機(jī)械損傷,延長了傳感器壽命。美國EdgeTech冷鏡露點(diǎn)儀COM.AIR滿足不同氣體壓力需求
在真空鍍膜、電子芯片制造等低壓或微正壓場(chǎng)景中,氣體壓力可能低至1kPa以下。此時(shí),正壓采樣可能因抽氣量不足導(dǎo)致測(cè)量延遲,而擴(kuò)散采樣則通過傳感器腔體的自然對(duì)流效應(yīng),實(shí)現(xiàn)低流量下的快速響應(yīng)。COM.AIR的擴(kuò)散采樣模塊采用多孔陶瓷濾網(wǎng)與導(dǎo)流錐結(jié)構(gòu),既能過濾顆粒物,又能維持氣體流速的穩(wěn)定性。某半導(dǎo)體企業(yè)應(yīng)用顯示,在真空腔體露點(diǎn)監(jiān)測(cè)中,COM.AIR的擴(kuò)散采樣模式將響應(yīng)時(shí)間從30秒縮短至8秒,確保了工藝參數(shù)的實(shí)時(shí)準(zhǔn)確控制。美國EdgeTech冷鏡露點(diǎn)儀COM.AIR滿足不同氣體壓力需求
COM.AIR的創(chuàng)新之處在于其智能采樣切換功能。設(shè)備內(nèi)置壓力傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)氣體壓力,當(dāng)壓力超過預(yù)設(shè)閾值時(shí),自動(dòng)切換至正壓采樣模式;在低壓環(huán)境下,則無縫切換為擴(kuò)散采樣。這種設(shè)計(jì)不僅簡化了操作流程,更通過動(dòng)態(tài)適應(yīng)工況變化,將測(cè)量誤差控制在±0.2℃以內(nèi),為工業(yè)用戶提供了“一機(jī)多用"的便捷體驗(yàn)美國EdgeTech冷鏡露點(diǎn)儀COM.AIR滿足不同氣體壓力需求
從高壓儲(chǔ)罐到真空腔體,COM.AIR以正壓采樣與擴(kuò)散采樣的雙模式設(shè)計(jì),打破了傳統(tǒng)露點(diǎn)儀的壓力限制,為能源、電子、化工等行業(yè)提供了全場(chǎng)景濕度檢測(cè)解決方案。

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